エネルギー分散形X線分析装置(EDS)『JED-2300』を導入いたしました

昨年度に導入した走査型プローブ顕微鏡(SPM)に引き続き、本年度も日本電子社製
エネルギー分散形X線分析装置(EDS)『JED-2300』を新たに導入いたしました。

本プロジェクトは光加工だけでなく、分析評価の強化も行っております。
今回新しく導入された装置にご興味をお持ちになられましたら、
当組合までご連絡をいただけますと幸いでございます。

【 本体/仕様 】
 日本電子社製エネルギー分散形X線分析装置(EDS)『JED-2300』
 ■ 受光面積:30mm²
 ■ エネルギー分解能:128eV以下
 ■ 検出可能元素:Be~U

[ 外部リンク(日本電子株式会社)]
 https://www.jeol.co.jp/products/detail/JED-2300_2300F.html

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