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⑦　集束イオンビーム・走査電子顕微鏡加工観察装置

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2011年7月6日

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【装置概要】
日本電子社製 JIB-4600F

高分解能 FE-SEM および 試料ピックアップシステム付帯

【装置の詳細】

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