Monthly Archive: March 2018

エネルギー分散形X線分析装置(EDS)『JED-2300』を導入いたしました

昨年度に導入した走査型プローブ顕微鏡(SPM)に引き続き、本年度も日本電子社製 エネルギー分散形X線分析装置(EDS)『JED-2300』を新たに導入いたしました。 本プロジェクトは光加工だけでなく、分析評価の強化も行っております。 今回新しく導入された装置にご興味をお持ちになられましたら、 当組合までご連絡をいただけますと幸いでございます。 【 本体/仕様 】  日本電子社製エネルギー分散形X線分析装置(EDS)『JED-2300』  ■ 受光面積:30mm²  ■ エネルギー分解能:128eV以下  ■ 検出可能元素:Be~U [ 外部リンク(日本電子株式会社)]  https://www.jeol.co.jp/products/detail/JED-2300_2300F.html